材料测试方法 知到智慧树答案2024 z28040

，无期末 ;电子束 （H+K+L）偶数，（H+K+L）奇数 《智慧树》测试答案(精选8篇) 2021知到智慧树题库及答案三篇合集 A.×eVBeVC.eVDJ A（H+K+L）偶数BH Ak是衍射波的波矢量B是倒易原点CO是爱瓦尔德球的球心D倒易阵点G落在爱瓦尔德球的球面上 A中间镜B投影镜C电磁透镜D分光镜 A二次B透射C背散射D俄歇 A二者采用的光源是一致的BX射线的衍射角相对较大C电子衍射的反射球半径小D电子衍射的散射能力高 A产生强衍射束B产生弱衍射束C不产生衍射 A利用衍射束得到图像衬度B透射束被挡掉C用于成像的是离轴光线D入射电子束方向倾斜θ A反装法B正装法C斜装法D偏装法 A可以实现晶体结构分析B可以实现组织形貌观察C物镜的像平面和中间镜的物平面都必须和选区光阑的位置齐平D选区光阑的水平位置在电镜中是可以调整的的 A可见光B原子CX射线D电子束 A周转晶体法B粉末法C劳埃法D布拉格法 A在一定条件下才能产生B可能会改变原有晶体的衍射花样C会给分析和标定带来方便D可以提供更多的结构信息 A垂直B平行C交叉D重合 A对B错 A微观结构B晶体缺陷C晶体中界面及表面的原子分布D微畴 A投影镜B中间镜C物镜D聚光镜 A是经过实际观察 A物镜光阑B消像散器C电磁偏转器D极靴 A物镜的像平面B样品上C物镜的背焦面D物镜的后焦面 A物镜背焦面B物镜后焦面C像平面D荧光屏 A相位衬度B质厚衬度C衍射衬度D振幅衬度 A碳支持膜B载网支持膜C铜网D微栅膜 A结构消光原理B电子衍射基本公式C矢量运算D晶带定理 A背散射电子B俄歇电子C二次电子D特征X射线 A表面效应可忽略B强度和刚度不做要求C杜绝腐蚀和氧化D组织结构能够代表大块样品 A表面没有机械硬化层B属于最终减薄C大部分控制在~μm的厚度D利用化学试剂腐蚀减薄样品 A配备了高分辨物镜极靴和光阑组合B是透射束和衍射束干涉形成的衬度C增大了样品台的倾转角D反映了晶体的周期性排列 A错B对 A间歇扫描B快速扫描C连续扫描D步进扫描 A降低球差B增加球差C配备慢扫描CCD相机D配备TV图像增强器 EBSD技术可广泛应用于显微组织及织构分析，其中织构可采用极图 EBSD菊池花样形成，是试样所激发（）电子满足布拉格方程，发生衍射效应的结果 eV第三章单元测试 K k是衍射波的波矢量 L同性数C（H+K）偶数D（H+K+L）奇数 SEM镜筒中聚光镜及物镜均为（） X射线的衍射角相对较大，电子衍射的散射能力高 X射线衍射仪常规测量中衍射强度的测量方法有哪些 X射线衍射方法有哪些 X射线衍射法测定结晶度是通过测定样品中晶相与非晶相的衍射方位来实现的A错B对 下列哪些信号可通过电子束与固体物质作用产生 中间镜 二次电子的产额随样品的倾斜度成变化，倾斜度最小，二次电子产额多 二次荧光，俄歇电子，光电子 产生弱衍射束 以下哪个不属于高分辨透射电子显微镜的改进方向 以下哪些可以用来搭载样品 体心立方晶体的衍射条件和消光条件分别是和 假设电子从灯丝上逸出时的能量为，请问在加速电压为V时电子最终的能量大约是多少 入射束与试样内各晶面相对位向不同不会造成衍射强度的明显差异 入射电子束穿过样品经物镜聚焦成像，在上形成衍射花样，在上形成显微图像 关于中心暗场成像，以下说法正确的是 关于化学抛光减薄法，以下说法错误的是（） 关于标准电子衍射花样，以下说法正确的是（） 关于电子衍射与X射线衍射的说法，以下正确的是（） 关于超点阵斑点，以下说法正确的是（） 关于选区电子衍射操作的说法正确的是 关于高分辨透射电子显微术，以下说法错误的是（） 利用衍射束得到图像衬度，透射束被挡掉，入射电子束方向倾斜θ 利用高分辨透射电子显微技术可以获得材料的哪些信息 单元测试答案 - 智慧树答案大全 反极图及取向分布函数描述 反装法，正装法，偏装法下方是付费阅读内容：本平台商品均为虚拟商品，无法用作二次销售，不支持退换货，请在购买前确认您需要购买的资料准确无误后再购买，望知悉！[]post_id=”″show_buy_btn=”true”]下方为已购买的内容：第四章单元测试 可以利用其进行衍射花样标定，可以根据晶带定理和消光规律绘出，各晶体点阵主要晶带的倒易截面 可以实现晶体结构分析，可以实现组织形貌观察，物镜的像平面和中间镜的物平面都必须和选区光阑的位置齐平 周转晶体法，粉末法，劳埃法 在一定条件下才能产生，可能会改变原有晶体的衍射花样，可以提供更多的结构信息 在物镜像平面上插入选区光阑可以实现选区电子衍射操作 在衍射仪的光学布置中，梭拉狭缝由一组平行的金属薄片组成，其作用是限制射线在竖直方向的发散度A错B对 场发射电子枪比热发射电子枪亮度更高，束斑尺寸更小，电子束相干性更好 均为章节测试 增加球差 增大了样品台的倾转角 实现入射电子束平移和倾斜的装置是 对 对[/]完整 对于给定原子，其Kα线的波长比Kβ线波长短 对第二章单元测试 对第五章单元测试 属于最终减薄 平行 当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生A背散射电子B二次荧光C俄歇电子D光电子 当入射束不严格满足布拉格方程的时候，衍射情况应该是 当晶体内部的原子或离子产生有规律的位移或不同原子产生有序排列时，有可能使本来消光的斑点出现，衍射花样中也将出现相应的额外斑点 微观结构，晶体缺陷，晶体中界面及表面的原子分布，微畴 德拜相机底片安装方法有哪些 所产生的光作用于光敏阴极而产生电信号来实现探测的 投影镜是用来形成第一幅高分辨电子显微图像或电子衍射花样 晶体正空间中的点阵晶面对应倒易空间中的点 晶带定理 智慧树知到章节测试答案 智慧树知到答案合集 智慧树答案 智慧树答案 - 知到网课答案 智慧树答案APP 智慧树答案全套免费 智慧树答案公众号免费 智慧树答案大全 - 知到智慧树题库 智慧树答案知到答案-网课答案题库大全 智慧树答案题库 智慧树见面课答案 最新知到智慧树 最新知到智慧树 答案大全 最新知到智慧树答案大全 最新知到网课 劳动教育 智慧树章节测试考试答案 未知晶体结构衍射花样标定时，应该在几个不同的方位摄取衍射花样，测低指数斑点的R值 材料测试方法 智慧树章节测试答案 材料测试方法 智慧树答案 材料测试方法 智慧树网课答案 材料测试方法 知到智慧树答案 材料测试方法 知到智慧树答案2023 z28040 材料测试方法 知到答案 材料的内应力分为三类，X射线衍射方法可以测定AD.A+B+CB第二类应力（微观应力）C第一类应力（宏观应力）D第三类应力 测量衍射斑点间距时，应该测量靠近中心斑点的几个衍射斑点至中心斑点的距离 消像散器形成的矫正磁场在强度上可调，在方位上不可调 点阵参数精确测定时，应尽可能选取高角度的衍射线 物镜光阑通常安装在物镜的背焦面上 物镜的像平面 物镜背焦面，像平面 理论上X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有多少 用以实现透射电镜成像操作和电子衍射操作的转换的是 用爱瓦尔德球图解说明电子衍射过程中，以下错误的是（） 电子束对薄膜样品的穿透能力和加速电压无关 电火花切割法只能用于导电样品 电磁偏转器 电磁透镜 电磁透镜可用于（）的聚焦 知到智慧树章节测试网课答案 知到智慧树章节测试网课答案题库 知到智慧树答案 知到智慧树答案大全-知到APP答案 知到智慧树答案题库 知到智慧树网课答案 知到智慧树网课答案题库 知到答案 知到答案 (校内课程) 完整智慧树网课章节测试答案 知到答案免费查询网站 知到答案吧 知到网课答案-知到智慧树答案 知到题库 碳支持膜，载网支持膜，铜网，微栅膜 第一章单元测试 第一类应力（宏观应力） 答案 网课小助手 网课小帮手 网课期末答案 网课答案 背散射 背散射电子，俄歇电子，二次电子，特征X射线 脉冲高度分析器可以剔除那些对衍射分析不需要的干扰脉冲，从而达到降低背底和提高峰背比的作用A错B对 薄晶体样品应该用来获得满意的图像反差 衍射衬度 表面效应可忽略，杜绝腐蚀和氧化，组织结构能够代表大块样品 衬度是显微图像中不同区域的明暗差别A对B错 计算晶带轴指数的基本原理是（） 记录得到衍射花样B可以利用其进行衍射花样标定C可以根据晶带定理和消光规律绘出D各晶体点阵主要晶带的倒易截面 调节中间镜使中间镜的物平面和物镜的像平面重合，实现电子衍射操作 购买后上方矩形框将出现已付费的隐藏内容 超点阵斑点一般出现在无序固溶体禁止反射的位置，强度一般较高 连续扫描，步进扫描 选区光阑应该加在什么位置以实现选取电子衍射操作 选区电子衍射操作需要先把透射电镜切换到电子衍射模式 透射电子显微操作中，对于样品的要求以下说法正确的是（） 错 闪烁体计数器探测信号是基于信号作用于闪烁体产生光 零层倒易面上的各倒易矢量ghkl的方向和正空间中相应晶面的法向之间的关系是 零层倒易面上的各倒易矢量都和晶带轴r=[uvw]垂直（⊥r）A错B对 零层倒易面的法线和正空间中的晶带轴[uvw]是垂直的关系 需点击上方按钮支付元购买，所有 非晶物质的衍射图由少数漫散峰组成A对B错 题库 高分辨显微像的衬度由透射波与衍射波的相位差决定 高分辨透射电子显微术（HRTEM）是材料分子级别显微组织结构的相位衬度显微术